系統(tǒng)概述

電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)是將環(huán)境試驗(yàn)箱與評(píng)估系統(tǒng)相結(jié)合，高效采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道系統(tǒng)。系統(tǒng)自動(dòng)評(píng)估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。系統(tǒng)通過精確控制溫度環(huán)境，并測量電容器在不同溫度下的關(guān)鍵參數(shù)（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數(shù)值），從而評(píng)估其溫度特性。該系統(tǒng)通常具有高精度、高穩(wěn)定性和高可靠性的特點(diǎn)，能夠適用于各種類型的電容器，包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等。

應(yīng)用領(lǐng)域

通信與信息技術(shù)：在通信設(shè)備和信息技術(shù)產(chǎn)品中，電容器也扮演著重要角色。多通道電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)可以提供高效的測試方案，確保產(chǎn)品在各種溫度環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。

電子材料：印刷電路板、通量、絕緣材料（樹脂、薄膜等）、介電材料（鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等）。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1.最多64個(gè)通道的自動(dòng)測量

可以測量不同溫度環(huán)境下的電容量 (C)、損耗因子(D) 和阻抗 (Z) 的多通道。可以選擇8個(gè)通道的倍數(shù)，最多64個(gè)通道。

2.圖形功能允許實(shí)時(shí)查看測量結(jié)果

收集的數(shù)據(jù)，包括不同溫度、頻率和時(shí)間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)審查。

3.可從不同測試模式選擇

溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)、恒定運(yùn)行試驗(yàn)和頻率特性試驗(yàn)。測試可與溫度特性評(píng)價(jià)測試或恒定運(yùn)行測試相合。

  》 溫度特性評(píng)估測試

   在此測試模式下,自動(dòng)記錄特性數(shù)據(jù),并與溫度變化同步,頻率步數(shù)201步(范圍可定制)。

  》 持續(xù)運(yùn)行測試測試

   模式測量以下參數(shù)的變化特定中隨時(shí)間推移的特征自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)。

  》 頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)

   試驗(yàn)?zāi)Ｊ皆谔囟囟拳h(huán)境下改變頻率的同時(shí)，自動(dòng)記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)。

4.多種可選夾具 適用于不同的試驗(yàn)樣本（可選）

除了 SMD 組件的專用夾具外，還提供了根據(jù)離散設(shè)備形狀定制的夾具。

技術(shù)指標(biāo)

1.測量項(xiàng)目：電容量 (C)、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)

2.測試方法：溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)（相對(duì)于溫度的變化）

恒定運(yùn)行檢測（相對(duì)于檢測時(shí)間的變化）

頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn) （相對(duì)于頻率的變化）

3.通道配置：8通道（標(biāo)準(zhǔn)）；最大值64通道可擴(kuò)展8通道增量

4.測量方法：交流四端對(duì)測量

5.測量范圍：測量頻率：20 Hz ~ 1 MHz

電容量 (C)：50 pF ~ 5 mF

損失因子 (D)：0.00001 ~ 9.99999

阻抗 (Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ

6.測量儀器：LCR 表 （可按需選擇型號(hào)）

7.直流偏壓：0 ~ ±40V

8.溫度測量間隔：1 ℃

9.掃描周期：64通道可在1min之內(nèi)完成

10.頻率步長：201步（范圍可定制）

11.補(bǔ)償：短時(shí)補(bǔ)償，開放補(bǔ)償

12.環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)控制：使溫度數(shù)據(jù)采集與測量和的溫度控制同步，具有RS-485功能的環(huán)境測試系統(tǒng)

13.測量電纜：由聚四氟乙烯制成的同軸電纜 （特性阻抗 (Z)，50Ω，95 pF/m）